X 射线荧光分析仪 EDX2800B – 快速、准确、无损的重金属测量。

EDX2800B 是一款 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪,广泛用于 RoHS 分析、涂层厚度测量和金属元素成分分析,具有高精度、易用性和成本效益等特点。

EDX2800B X 射线荧光光谱仪简介
EDX2800B X 射线荧光光谱仪是一种现代分析设备,广泛用于电子工业、元件制造、金属加工和材料质量检查。该设备采用先进的 X 射线荧光 (XRF) 技术,可快速无损地测定重金属元素含量并分析电镀层。

凭借其紧凑的设计、稳定的配置、用户友好的软件和高精度,EDX2800B 是需要符合 RoHS、ELV、REACH 和 WEEE 标准的材料测试以及精密机械制造中的电镀分析的企业的理想解决方案。

### EDX2800B 的主要特点

✅ 无损分析
无需复杂的样品制备——直接分析塑料、金属和电子元件。

✅ 快速检测有害元素
准确检测 Pb、Cd、Hg、Cr(VI)、Br、Cl 和其他金属元素。

✅ 镀层厚度和材料成分测量
支持镀层厚度测量和基层元素分析,非常适合来料检测。

✅ 符合国际标准
适合根据 RoHS 2.0、ELV、WEEE 和 REACH 法规进行测试,这对出口合规性至关重要。

✅ 越南语用户界面
支持越南语的分析管理软件,作简单,培训快速。

### 技术规格

– 型号: EDX2800B
– X 射线源: 50kV,1mA(Ag 或 Rh 管)
– 探测器: 高速硅漂移探测器 (SDD)
– 元素范围: Na 到 U
– 能量分辨率: 5.9keV 时为 ≤135eV
– 样品尺寸: 可达 200 × 160mm
– 分析时间: 30 秒 – 300 秒(取决于样品)
– 分析模式: 元素组成、镀层厚度测量
– 输出格式: 表格、图表、PDF、Excel
– 连接性: USB 3.0、LAN
– 电源: 220V AC, 50Hz
– 重量: ~45kg
– 保固: 12 个月

### EDX2800B 的应用

🔹 电子、塑料和橡胶中的 RoHS 分析
🔹 金、银、镍、锡、铜镀层等的检验。
🔹 机械和塑料成型品中的金属成分测量
🔹 输入合金分析 – 铝、铜、不锈钢等
🔹 出口前环境合规性测试

### 为什么选择 Tech Boss 的 EDX2800B

☑️ 正品新设备,提供 1 年保修
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